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OBJECTIFS
Les lasers à semiconducteur à émission par la surface (VCSEL), composants bas-coût, sont très utilisés dans les interconnexions optiques et les réseaux optiques courte distance. L’étude de ces sources optiques à haut débit (10 Gb/s) dans des environnements sévères nécessite le développement de modèles dédiés.
Dans les réseaux optiques multiplexés en longueur d’onde (WDM), les lasers à semi-conducteurs accordables DBR permettent d’atteindre tous les canaux WDM. Une méthode de détermination rapide de la longueur d’onde permet un contrôle optimal, même en cours de fonctionnement.
La qualité des transmissions optiques à très haut débit (> 40 Gb/s) est dégradée par la dispersion des fibres optiques ce qui en limite la portée. Le chirp des composants d’émission (laser et modulateur externe) est une des causes de la dispersion. Sa caractérisation permet d’optimiser les paramètres de modulation du signal à transmettre.
Une plate-forme de caractérisation de systèmes de télécommunications optiques à haut débit est mise en place avec le soutien du Conseil Général de l’Essonne et du Conseil Régional Ile de France dans le cadre de PRISME Optics Valley. Nous disposons de moyens de mesure du Taux d’Erreurs Binaires (TEB) et du diagramme de l’œil jusqu’à 50 GHz. Nous disposons aussi de moyens d’analyse de spectre optique en régime statique et en dynamique (chirp).
SUJETS
1. Analyse et modélisation de composants optoélectroniques
2. Systèmes de transmissions optiques.
CONTACTS
Département Télécommunications
Campus de Gif
Sujets 1 à 2 : Alain DESTREZ, Zeno TOFFANO
Tél. : +33[0]1 69 85 14 41 / 40